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技術(shù)文章 / article
快速溫變測(cè)試箱內(nèi)樣品的擺放位置、固定方式及預(yù)處理狀態(tài),是影響數(shù)據(jù)重復(fù)性的核心因素。若每次測(cè)試時(shí)樣品未固定在快速溫變測(cè)試箱的 “溫場(chǎng)均勻區(qū)"(通常為腔體中心 ±1/3 區(qū)域),靠近風(fēng)道或腔體壁的樣品會(huì)因局部溫差(可達(dá) ±2℃)導(dǎo)致溫變曲線偏移;例如測(cè)試車(chē)載傳感器時(shí),若部分樣品傾斜放置,其與溫變箱內(nèi)氣流的接觸面積變化,會(huì)使升溫速率偏差超 1℃/min。此外,樣品預(yù)處理不統(tǒng)一(如部分樣品未完成 24 小時(shí)室溫靜置),會(huì)因初始熱容量差異,導(dǎo)致相同溫變程序下的熱響應(yīng)滯后,數(shù)據(jù)偏差率可升至 8% 以上,遠(yuǎn)超 JEDEC JESD22-A104 標(biāo)準(zhǔn)允許的 3% 誤差范圍。

快速溫變測(cè)試箱所處的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境波動(dòng),會(huì)間接影響其控溫穩(wěn)定性。實(shí)驗(yàn)室溫度晝夜波動(dòng)超 5℃(如白天 25℃、夜間 18℃),會(huì)導(dǎo)致快速溫變測(cè)試箱的冷凝器散熱效率變化,使低溫段(≤-40℃)的控溫偏差增大至 ±1℃;相對(duì)濕度高于 65% 時(shí),溫變箱門(mén)體密封條易結(jié)露,破壞腔體密封性,導(dǎo)致溫場(chǎng)波動(dòng)度從 ±0.5℃升至 ±0.8℃。此外,實(shí)驗(yàn)室周邊大功率設(shè)備(如空壓機(jī)、變頻器)產(chǎn)生的電磁干擾(≥50dB),會(huì)干擾快速溫變測(cè)試箱的溫度傳感器信號(hào)傳輸,使數(shù)據(jù)采集出現(xiàn)跳變,重復(fù)性誤差顯著增加。

未嚴(yán)格遵循快速溫變測(cè)試箱的操作與校準(zhǔn)規(guī)范,是數(shù)據(jù)重復(fù)性差的常見(jiàn)人為因素。每次測(cè)試前若未對(duì)溫變箱的溫度傳感器進(jìn)行單點(diǎn)校準(zhǔn)(如采用標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻校驗(yàn)),傳感器漂移(年漂移量可達(dá) 0.3℃)會(huì)累積導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏差;測(cè)試過(guò)程中頻繁開(kāi)啟箱門(mén)(每次開(kāi)門(mén)導(dǎo)致溫場(chǎng)恢復(fù)需 15~20 分鐘),會(huì)破壞連續(xù)溫變曲線的完整性;此外,樣品放入后未等待溫場(chǎng)穩(wěn)定(如未執(zhí)行 “預(yù)熱 30 分鐘" 流程)便啟動(dòng)測(cè)試,會(huì)使初始階段的溫變數(shù)據(jù)失真,重復(fù)性難以保證。
