控溫精度下降：老化后門封條縫隙增大，外界熱量（或冷量）會持續滲入工作室。例如，當設備處于 - 40℃低溫測試時，外界常溫空氣滲入會導致工作室溫度難以穩定在 ±0.5℃，可能出現 ±1℃以上的波動，無法滿足新能源電池、通信設備等高精度測試需求；

能耗大幅增加：為抵消外界熱量干擾，設備的壓縮機與加熱管需頻繁啟停、滿負荷運行。數據顯示，門封條老化后，快速溫變高低溫測試箱的能耗會上升 20%~50%，不僅增加運行成本，還會縮短制冷系統與加熱系統的使用壽命；

溫變效率降低：在高速溫變測試中（如 15℃/min 的升溫速率），門封條泄漏會導致工作室溫度上升緩慢，原本 10 分鐘可完成的 20℃~80℃升溫過程，可能延長至 15 分鐘以上，嚴重影響測試效率，甚至導致測試數據失真；

設備故障風險升高：長期高負荷運行下，壓縮機易因過熱保護頻繁停機，加熱管也可能因持續高溫出現燒毀故障，增加設備維修成本與停機時間。

快速判斷方法：

維護與更換建議：